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分光干渉方式レーザー変位計を使用して、ウェハの厚みを高精度に測定するものです。
シリコンベース上に蒸着された樹脂膜やPET等の厚みを個々に測定できます。
ワークのOK,NGを自動判定する検査機仕様となっています。
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最大12インチのウェハの高精度な厚み測定を実現 |
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測定が高速なので量産の全品チェックに適しています |
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非接触なので検査対象を傷つける心配がありません |
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測定対象物による影響が非常に少ない |
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ウェハーから金属の研削加工品あるいは透明なガラスまで測定可能 |
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ワークの判定基準値を登録しておくことによりOK,NGを自動判定します |
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その他自動測定、半自動測定あるいはワークサイズなどによりカスタマイズ承ります |
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測定エリア:2インチ~12インチ以上可 |
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測定方式:スキャニング方式 |
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使用可能レーザ変位計:分光干渉レーザ、マルチレーザ同軸 |
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分解能: ~0.001μm(Max) |
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価格帯:280万円~700万円 |
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